Projekty finansowane przez NCN


Dane kierownika projektu i jednostki realizującej

Szczegółowe informacje o projekcie i konkursie

Słowa kluczowe

Aparatura

Wyczyść formularz

Właściwości optyczne, strukturalne i elektroniczne kropek kwantowych III-V nakrzemie

2019/33/B/ST5/02941

Słowa kluczowe:

kropka kwantowa półprzewodniki III-V spektroskopia optyczna własności strukturalne struktura pasmowa

Deskryptory:

  • ST5_001: Właściwości strukturalne materiałów
  • ST5_013: Metody badań materiałów /nanomateriałów
  • ST3_004: Własności elektronowe materiałów, powierzchni, złącz międzywarstwowych, nanostruktur, itp.

Panel:

ST5 - Synteza i materiały: otrzymywanie materiałów, związki struktury z właściwościami, nowoczesne materiały o założonych właściwościach, architektura (makro)molekularna, chemia organiczna, chemia nieorganiczna

Jednostka realizująca:

Politechnika Wrocławska

woj. dolnośląskie

Inne projekty tej jednostki 

Kierownik projektu (z jednostki realizującej):

prof. Grzegorz Sęk 

Liczba wykonawców projektu: 9

Konkurs: OPUS 17 - ogłoszony 2019-03-15

Przyznana kwota: 1 483 800 PLN

Rozpoczęcie projektu: 2020-05-01

Zakończenie projektu: 2024-05-18

Planowany czas trwania projektu: 48 miesięcy (z wniosku)

Status projektu: Projekt rozliczony

Opis Projektu

Pobierz opis projektu w formacie .pdf

Uwaga - opisy projektów zostały sporządzone przez samych autorów wniosków i w niezmienionej formie umieszczone w systemie.

Dane z raportu końcowego/rocznego

  • Publikacje w czasopismach (6)
  1. Xenon plasma-focused ion beam milling for fabrication of high-purity, bright single-photon sources operating in the C-band
    Autorzy:
    M. Jaworski, P. Mrowiński, M. G. Mikulicz, P. Holewa, L. Zeidler, M. Syperek, E. Semenova, G. Sęk
    Czasopismo:
    Optics Express (rok: 2024, tom: 32, strony: 41089-41101), Wydawca: Optica Publishing Group
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1364/OE.534313 - link do publikacji
  2. Fast and efficient approach for multi-component quantum wells analysis based on FFT
    Autorzy:
    L. Pawlaczyk, D. Pucicki, J. Serafinczuk
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2021, tom: 186, strony: 110118-1-8), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2021.110118 - link do publikacji
  3. High-resolution X-ray diffraction to probe quantum dot asymmetry
    Autorzy:
    J. Serafińczuk, W. Rudno-Rudziński, M. Gawełczyk, P. Podemski, K. Parzyszek, A. Piejko, V. Sichkovskyi, J.P. Reithmaier, G. Sęk
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2023, tom: 221, strony: 113451-1-9), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2023.113451 - link do publikacji
  4. Monolithic Integration of Sub-50 nm III–V Nano-Heterostructures on Si (001) for Telecom Photonics
    Autorzy:
    A. Nanwani, P. Wyborski, M. S. Seifner, S. Kadkhodazadeh, G. Sęk, K. Yvind, P. Holewa, E. Semenova
    Czasopismo:
    Advanced Optical Materials (rok: 2025, tom: nie dotyczy, strony: 2403419-1-9), Wydawca: Wiley Advanced
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1002/adom.202403419 - link do publikacji
  5. X-ray diffraction studies of residual strain in AlN/sapphire templates
    Autorzy:
    J. Serafinczuk, L. Pawlaczyk, K. Moszak, D. Pucicki, R. Kudrawiec, D. Hommel
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2022, tom: 200, strony: 111611-1-7), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2022.111611 - link do publikacji
  6. Effects of dislocation filtering layers on optical properties of third telecom window emitting InAs/InGaAlAs quantum dots grown on silicon substrates
    Autorzy:
    W. Rudno-Rudziński, M. Gawełczyk, P. Podemski, E. Cybula, S. Gorantla, R. Balasubramanian, V. Sichkovskyi, A. J. Willinger, G. Eisenstein, J. P. Reithmaier. G. Sęk
    Czasopismo:
    ACS Applied Materials & Interfaces (rok: 2024, tom: 16, strony: 51150-51162), Wydawca: American Chemical Society
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1021/acsami.4c12061 - link do publikacji