Projekty finansowane przez NCN
Badanie struktury elektronowej, gęstości stanów i morfologii powierzchni półprzewodników złożonych AIIIBV-N z zastosowaniem nowatorskiego spektromikroskopu DEEM. Opracowanie nowej metodologii charakteryzacji.
2015/17/B/ST7/03815
Słowa kluczowe:
epitaksja związki AIIIBV-N stany powierzchniowe morfologia struktura elektronowa mikroskop spektralny
Deskryptory:
- ST7_5: Mikro- i nanoelektronika, optoelektronika
- ST7_2: Elektrotechnika, elektronika: półprzewodniki, elementy i układy, systemy
Panel:
ST7 - Inżynieria systemów i komunikacji: elektronika, komunikacja, optoelektronika
Jednostka realizująca:
Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
woj. dolnośląskie
Kierownik projektu (z jednostki realizującej):
dr hab. Krzysztof Grzelakowski
Liczba wykonawców projektu: 6
Konkurs: OPUS 9 - ogłoszony 2015-03-16
Przyznana kwota: 1 342 200 PLN
Rozpoczęcie projektu: 2016-03-18
Zakończenie projektu: 2019-09-17
Planowany czas trwania projektu: 42 miesięcy (z wniosku)
Status projektu: Projekt rozliczony
Opis Projektu
Pobierz opis projektu w formacie .pdf
Uwaga - opisy projektów zostały sporządzone przez samych autorów wniosków i w niezmienionej formie umieszczone w systemie.
Zakupiona aparatura
- oprogramowanie systemu (na bazie LabView). Za kwotę 10 000 PLN
- komputerowa stacja robocza do obsługi systemu pomiarowego z dwoma monitorami. Za kwotę 10 000 PLN
- Turbomolekularny wysokopróżniowy układ pompujący.
- wyładowawcze źródło promieniowania w głębokim ultrafiolecie o dużej gęstości fotonowej z plazmy gazów szlachetnych wraz z monochromatorem. Za kwotę 475 000 PLN
Dane z raportu końcowego/rocznego
- Publikacje w czasopismach (4)
- Electron optical optimisation of an imaging energy analyser: real model field and trajectorysimulations applied to k-space visualisation of electronic statesAutorzy:Gabriel A. CEBALLOS, Krzysztof P. GRZELAKOWSKICzasopismo:Advances in Electrical and Electronic Engineering (rok: 2021, ), Wydawca: VSB-Technical UniversityStatus:Przyjęta do publikacjiDoi:brak - link do publikacji
- Space charge effects and aberrations on electron pulse compression in a spherical electrostatic capacitorAutorzy:Yu Lei, Li Haibo, Wan Weishi, Wei Zheng, Krzysztof P.Grzelakowski, Rudolf M. Tromp, Tang Wen-XinCzasopismo:Ultramicroscopy (rok: 2017, tom: Volume 183, strony: Pages 30-37), Wydawca: ELSEVIERStatus:OpublikowanaDoi:10.1016/j.ultramic.2017.07.003 - link do publikacji
- The New Methodology and Chemical Contrast Observation by Use of the Energy-Selective Back-Scattered Electron DetectorAutorzy:Marek Drab, Janusz Krajniak and Krzysztof P. Grzelakowski (corresponding author)Czasopismo:Microscopy and Microanalysis (rok: 2016, tom: 22, strony: 1369–1373), Wydawca: CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESSStatus:OpublikowanaDoi:10.1017/S1431927616012514 - link do publikacji
- A new methodology for energy selective electron analysis and imaging: LEED, LEEM, PEEM, AES and UPS in Dual Emission Electron spectroMicroscope for topographic-, atomic-, chemical- and band structure determinationAutorzy:Krzysztof Piotr Grzelakowski, Gabriel Armando Ceballos, Marek Jerzy TlaczalaCzasopismo:Review of Scientific Instruments , Wydawca: American Institute of PhysicsStatus:ZłożonaDoi:RSI21-AR-02507 - link do publikacji