Projekty finansowane przez NCN
Pomiary wychyleń układów nanoelektromechanicznych (NEMS) z wykorzystaniem metod skaningowej mikroskopii tunelowej
2016/21/N/ST7/02275
Słowa kluczowe:
STM SEM NEMS MEMS pomiary drgań
Deskryptory:
- ST7_2: Elektrotechnika, elektronika: półprzewodniki, elementy i układy, systemy
- ST7_5: Mikro- i nanoelektronika, optoelektronika
Panel:
ST7 - Inżynieria systemów i komunikacji: elektronika, komunikacja, optoelektronika
Jednostka realizująca:
Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
woj. dolnośląskie
Konkurs: PRELUDIUM 11 - ogłoszony 2016-03-15
Przyznana kwota: 99 000 PLN
Rozpoczęcie projektu: 2017-03-15
Zakończenie projektu: 2019-09-14
Planowany czas trwania projektu: 30 miesięcy (z wniosku)
Status projektu: Projekt rozliczony
Opis Projektu
Pobierz opis projektu w formacie .pdf
Uwaga - opisy projektów zostały sporządzone przez samych autorów wniosków i w niezmienionej formie umieszczone w systemie.
Zakupiona aparatura
- Próżniomierz dwuzakresowy. Za kwotę 6 000 PLN
- Precyzyjny aktuator liniowy do zastosowań próżniowych ze sterownikiem. Za kwotę 9 000 PLN
Dane z raportu końcowego/rocznego
- Publikacje w czasopismach (3)
- ARMScope – THE VERSATILE PLATFORM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPY SYSTEMSAutorzy:Bartosz Świadkowski, Tomasz Piasecki, Maciej Rudek, Michał Świątkowski, Krzysztof Gajewski, Wojciech Majstrzyk, Michał Babij, Andrzej Dzierka, Teodor GotszalkCzasopismo:METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS (rok: 2020, tom: 27, strony: 119–130), Wydawca: METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMSStatus:OpublikowanaDoi:10.24425/mms.2020.131711 - link do publikacji
- Resolution improvement in electromagnetically actuated Wheatstone bridge configuration micromechanical resonatorsAutorzy:Magdalena Moczała, Andrzej Sierakowski, Michał Babij, Krzysztof Kwoka, Rafał Dobrowolski, Jacek Radojewski, Tomasz Piasecki, Teodor GotszalkCzasopismo:Sensors and Actuators A: Physical (rok: 2018, tom: vol. 284, strony: 181-185), Wydawca: Sensors and Actuators. A, PhysicalStatus:OpublikowanaDoi:10.028 - link do publikacji
- MEMS displacement generator for atomic force microscopy metrologyAutorzy:Michał Babij, Wojciech Majstrzyk, Andrzej Sierakowski, Paweł Janus, Piotr Grabiec, Zbigniew Ramotowski, Andrew Yacoot, Teodor GotszalkCzasopismo:Measurement Science and Technology (rok: 2020, tom: -, strony: -), Wydawca: Measurement Science and TechnologyStatus:ZłożonaDoi:brak - link do publikacji