Projekty finansowane przez NCN


Dane kierownika projektu i jednostki realizującej

Szczegółowe informacje o projekcie i konkursie

Słowa kluczowe

Aparatura

Wyczyść formularz

Badania in-situ relaksacji plastycznej warstw buforowych InGaN w celu zwiększenia limitów zawartości indu w azotkowych warstwach epitaksjalnych

2020/39/I/ST5/03379

Słowa kluczowe:

podłoża InGaN procesy relaksacji naprężeń in-situ transmisyjna mikroskopia elektronowa in-situ dyfrakcja promieni rentgenowskich kinetyka dyslokacji warstwy InGaN o dużej zawartości indu

Deskryptory:

  • ST5_002: Materiały o strukturze ciała stałego

Panel:

ST5 - Synteza i materiały: otrzymywanie materiałów, związki struktury z właściwościami, nowoczesne materiały o założonych właściwościach, architektura (makro)molekularna, chemia organiczna, chemia nieorganiczna

Jednostka realizująca:

Instytut Wysokich Ciśnień PAN

woj. mazowieckie

Inne projekty tej jednostki 

Kierownik projektu (z jednostki realizującej):

dr hab. Julita Wiktoria Smalc-Koziorowska 

Liczba wykonawców projektu: 5

Konkurs: OPUS 20 (LAP) - ogłoszony 2020-09-15

Przyznana kwota: 991 740 PLN

Rozpoczęcie projektu: 2021-12-01

Zakończenie projektu: 2026-12-06

Planowany czas trwania projektu: 60 miesięcy (z wniosku)

Status projektu: Projekt w realizacji

Opis Projektu

Pobierz opis projektu w formacie .pdf

Uwaga - opisy projektów zostały sporządzone przez samych autorów wniosków i w niezmienionej formie umieszczone w systemie.

Dane z raportu końcowego/rocznego

  • Publikacje w czasopismach (4)
  1. Formation of a-type dislocations near the InGaN/GaN interface during post-growth processing of epitaxial structures
    Autorzy:
    J. Moneta, G. Staszczak, E. Grzanka, P. Tauzowski, P. Dłużewski and J. Smalc-Koziorowska
    Czasopismo:
    Journal of Applied Physics (rok: 2023, tom: 133, strony: 45304), Wydawca: AIP Publishing
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1063/5.0128514 - link do publikacji
  2. m-Line Frank−Shockley Partial Dislocations in Wurtzite GaN: Atomistic Calculations and High Resolution Electron Microscopy Imaging
    Autorzy:
    Imad Belabbas, Joanna Moneta, George P. Dimitrakopulos, Joseph Kioseoglou, Jun Chen, Witold Chromiński, and Julita Smalc-Koziorowska
    Czasopismo:
    ACS Applied Electronic Materials (rok: 2025, tom: 7, strony: 6529−6540), Wydawca: ACS
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1021/acsaelm.5c00859 - link do publikacji
  3. The dissociation of (a+c) misfit dislocations at the InGaN/GaN interface
    Autorzy:
    J. Smalc-Koziorowska J. Moneta G. Muzioł W. Chromiński R. Kernke M. Albrecht T. Schulz I. Belabbas
    Czasopismo:
    Journal of Microscopy (rok: 2023, tom: 293, strony: 146-152), Wydawca: Wiley
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1111/jmi.13234 - link do publikacji
  4. Influence of GaN substrate miscut on the XRD quantification of plastic relaxation in InGaN
    Autorzy:
    Moneta, J. Kryśko, M. Domagala, J. Z. Grzanka, E. Muziol, G. Siekacz, M. Leszczyński, M. Smalc-Koziorowska, J.
    Czasopismo:
    Acta Materialia (rok: 2024, tom: 276, strony: 120082), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.actamat.2024.120082 - link do publikacji