Dyfuzja 3D domieszek w GaN - mechanizm i rola defektów

2019/33/B/ST5/02756

Słowa kluczowe

Deskryptory

  • ST5_001: Właściwości strukturalne materiałów

Panel

ST5 – Synteza i materiały: otrzymywanie materiałów, związki struktury z właściwościami, nowoczesne materiały o założonych właściwościach, architektura (makro)molekularna, chemia organiczna, chemia nieorganiczna

Jednostka realizująca

Sieć Badawcza ŁUKASIEWICZ - Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki

woj. mazowieckie

Inne projekty tej jednostki »

Kierownik projektu (z jednostki realizującej)

prof. Andrzej Wiesław Turos

Liczba wykonawców projektu: 11

Konkurs

OPUS 17 – ogłoszony 2019-03-15

Przyznana kwota
1 316 200 PLN
Rozpoczęcie projektu
2020-02-05
Zakończenie projektu
2024-05-04
Planowany czas trwania projektu
51 miesięcy (z wniosku)
Status projektu
Projekt rozliczony

Opis projektu

Pobierz opis projektu w formacie .pdf

Uwaga — opisy projektów zostały sporządzone przez samych autorów wniosków i w niezmienionej formie umieszczone w systemie.

Dane z raportu końcowego/rocznego

Publikacje w czasopismach (3)

  1. Deep‑level defects induced by implantations of Si and Mg ions into undoped epitaxial GaN

    Autorzy:
    Paweł Kamiński, Andrzej Turos, Roman Kozłowski, Kamila Stefańska‑Skrobas, Jarosław Żelazko & Ewa Grzanka
    Czasopismo:
    Nature: Scientific Reports (rok: 2024, tom: 14, strony: 14272), Wydawca: Springer
    Status:
    Opublikowana
    DOI:
    10.1038/s41598-024-65142-w – link do publikacji
  2. Deep-level traps in as-grown and electron-irradiated homo-epitaxial n-GaN layers grown by MOVPE

    Autorzy:
    J. Plesiewicz, P. Kruszewski, V.P. Markevich, P. Prystawko, S. Bulka, M. Hallsal , I. Crowe, L. Sun, A.R. Peake
    Czasopismo:
    Microelectronic Engineering (rok: 2023, tom: 274, strony: 111977-), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    DOI:
    10.1016/j.mee.2023.111977 – link do publikacji
  3. Laplace DLTS studies of the 0.25 eV electron trap properties in n-GaN

    Autorzy:
    P. Kruszewski, P. Kamiński, R. Kozłowski , J. Żelazko , R. Czernecki , M. Leszczyński, A. Turos3
    Czasopismo:
    Semiconductor Science and Technology (rok: 2021, tom: 36, strony: 46029), Wydawca: IOP Publishing LTD
    Status:
    Opublikowana
    DOI:
    10.1088/1361-6641/abe317 – link do publikacji

« Nowe wyszukiwanie

Projekt graficzny i wykonanie: Jakub Piotrowski