Badanie procesów termicznych w diodach laserowych na azotku galu przy wykorzystaniu spektroskopii termoodbiciowej

2011/03/D/ST7/03093

Słowa kluczowe

Deskryptory

  • ST7_5: Mikro- i nanoelektronika, optoelektronika

Panel

ST7 – Inżynieria systemów i komunikacji: elektronika, komunikacja, optoelektronika

Jednostka realizująca

Instytut Technologii Elektronowej

woj. mazowieckie

Inne projekty tej jednostki »

Kierownik projektu (z jednostki realizującej)

dr Dorota Iwona Pierścińska

Liczba wykonawców projektu: 5

Konkurs

SONATA 2 – ogłoszony 2011-09-15

Przyznana kwota
466 060 PLN
Rozpoczęcie projektu
2012-09-17
Zakończenie projektu
2016-06-16
Planowany czas trwania projektu
45 miesięcy (z wniosku)
Status projektu
Projekt rozliczony

Zakupiona aparatura

  1. Elementy konstrukcyjne układu pomiarowego. Za kwotę 30 000 PLN
  2. Elementy opto - mechaniczne. Za kwotę 30 000 PLN
  3. Generator funkcyjny. Za kwotę 6 000 PLN
  4. Komputer do obróbki i analizy danych. Za kwotę 7 000 PLN
  5. Kontroler temperatury. Za kwotę 17 000 PLN
  6. Laser próbkujący długość fali 355nm, 10 mW. Za kwotę 36 728 PLN
  7. Peltiery, czujniki temperatury, pasty termiczne. Za kwotę 3 000 PLN
  8. Stoliki przesuwne z dużą rozdzielczością przestrzenną -. Za kwotę 10 276 PLN
  9. Zasilacz laserowy. Za kwotę 30 103 PLN
  10. Zestaw chłodzenia wodnego. Za kwotę 1 000 PLN
  11. Zestaw filtrów optycznych- część I. Za kwotę 5 000 PLN

Dane z raportu końcowego/rocznego

Publikacje w czasopismach (3)

  1. Examination of thermal properties and degradation of InGaN - based diode lasers by thermoreflectance spectroscopy and focused ion beam etching

    Autorzy:
    Dorota Pierścińska, Kamil Pierściński, Mariusz Płuska, Łucja Marona,Przemysław Wiśniewski, Piotr Perlin and Maciej Bugajski
    Czasopismo:
    AIP ADVANCES (rok: 2017, tom: 7, strony: 075107-075107-10), Wydawca: AIP Publishing
    Status:
    Opublikowana
    DOI:
    10.1063/1.4990867 – link do publikacji
  2. High-resolution mirror temperature mapping in GaN-based diode lasers by thermoreflectance spectroscopy

    Autorzy:
    D. Pierścińska*, Ł. Marona, K. Pierściński, P. Wiśniewski, P. Perlin, M. Bugajski
    Czasopismo:
    Japanese Journal of Applied Physics- Rapid communication (rok: 2017, tom: 56, strony: 4), Wydawca: IOP Science
    Status:
    Opublikowana
    DOI:
    10.7567/JJAP.56.020302 – link do publikacji
  3. Thermoreflectance spectroscopy—Analysis of thermal processes in semiconductor lasers

    Autorzy:
    D.Pierścińska
    Czasopismo:
    Journal of Physics D: Applied Physics - TOPICAL REVIEW (rok: 2018, tom: 51, strony: 013001(pp25)), Wydawca: IOP Publishing
    Status:
    Opublikowana
    DOI:
    10.1088/1361-6463/aa9812 – link do publikacji

Teksty w publikacjach pokonferencyjnych (2)

  1. Thermal properties and degradation mechanisms of InGaN - based diode lasers investigated by thermoreflectance spectroscopy and focused ion beam etching

    Autorzy:
    D. Pierścińska, K. Pierściński, M. Płuska, Ł. Marona, P. Wiśniewski, P. Perlin and M. Bugajski
    Konferencja:
    7th Workshop on Physics and Technology of Semiconductor Lasers Kraków (rok: 2017, strony: 2), Wydawca: 7th Workshop on Physics and Technology of Semiconductor Lasers Kraków
    Data:
    konferencja 15-18 October
    Status:
    Opublikowana
  2. Facet temperature measurements of GaN-based laser diodes using thermoreflectance spectroscopy

    Autorzy:
    Dorota Pierścinska, Kamil Pierścinski, Lucja Marona, Przemyslaw Wiśniewski, Piotr Perlin and Maciej Bugajski
    Konferencja:
    SPIE PHOTONICS WEST (rok: 2017, strony: 1), Wydawca: Published in SPIE Proceedings Vol. 10104: Gallium Nitride Materials and Devices XII
    Data:
    konferencja 28.01-02.02.
    Status:
    Opublikowana

« Nowe wyszukiwanie

Projekt graficzny i wykonanie: Jakub Piotrowski