Projekty finansowane przez NCN

Dane kierownika projektu i jednostki realizującej

Szczegółowe informacje o projekcie i konkursie

Słowa kluczowe

Aparatura

Wyczyść formularz

Analiza ilościowa powierzchniowych warstw atomowych za pomocą spektroskopii elektronowych

2011/01/B/ST4/00959

Słowa kluczowe:

Teoria transportu elektronów rozpraszanie elektronów na powierchniach wyznaczanie składu powierzchni

Deskryptory:

  • ST4_3: Metody spektroskopowe i spektrometryczne
  • ST4_8: Metody instrumentalne w chemii
  • ST4_5: Chemia i fizykochemia powierzchni

Panel:

ST4 - Chemia analityczna i fizyczna: chemia analityczna, metody teoretyczne w chemii, chemia fizyczna/fizyka chemiczna

Jednostka realizująca:

INSTYTUT CHEMII FIZYCZNEJ PAN

woj. mazowieckie

Inne projekty tej jednostki 

Kierownik projektu (z jednostki realizującej):

prof. Aleksander Jabłoński 

Liczba wykonawców projektu: 6

Konkurs: OPUS 1 - ogłoszony 2011-03-15

Przyznana kwota: 666 820 PLN

Rozpoczęcie projektu: 2011-12-01

Zakończenie projektu: 2014-11-30

Planowany czas trwania projektu: 36 miesięcy (z wniosku)

Status projektu: Projekt rozliczony

Zakupiona aparatura

  1. Pompa bezolejowa XDS10. Za kwotę 15 500 PLN
  2. Anoda cyrkonowo-magnezowa, Zr/Mg. Za kwotę 19 300 PLN
  3. Linia dozowania gazów z zaworami. Za kwotę 7 000 PLN
  4. Oprogramowanie NAG Fortran.
  5. Komputer z drukarką. Za kwotę 25 000 PLN
  6. Oprogramowanie (Acrobat, Borland C++ XE2, Lahey Fortran, NAG Fortran, MS Office Pro) (5 szt.). Za kwotę 10 000 PLN

Dane z raportu końcowego/rocznego

  • Publikacje w czasopismach (17)
  • Publikacje książkowe (3)
  1. Cross sections for inner-shell ionization by electron impact
    Autorzy:
    X. Llovet, C. J. Powell, F. Salvat, A. Jablonski
    Czasopismo:
    Journal of Physical and Chemical Reference Data (rok: 2014, tom: 43, strony: 13102), Wydawca: AIP Publishing
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1063/1.4832851 - link do publikacji
  2. XPS study of arsenic doped ZnO grown by Atomic Layer Deposition
    Autorzy:
    D. Snigurenko, R. Jakiela, E. Guziewicz, E. Przezdziecka, M. Stachowicz, K. Kopalko, A. Barcz, W. Lisowski, J.W. Sobczak, M. Krawczyk, A. Jabłoński
    Czasopismo:
    Journal of Alloys and Compounds (rok: 2014, tom: 582, strony: 594-597), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.jallcom.2013.08.061 - link do publikacji
  3. Emission depth distribution function for photoelectrons emitted by laboratory hard X-ray sources
    Autorzy:
    A. Jabłoński
    Czasopismo:
    Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena (rok: 2014, tom: 195, strony: 26-42), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.elspec.2014.04.012 - link do publikacji
  4. Angular distribution of elastic electron backscattering from surfaces: determination of the electron inelastic mean free path
    Autorzy:
    A. Jabłoński
    Czasopismo:
    Journal of Physics D: Applied Physics (rok: 2014, tom: 47, strony: 55301), Wydawca: IOP Publishing
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1088/0022-3727/47/5/055301 - link do publikacji
  5. Atomic layer deposition of Zn_1-xMg_xO: Al transpoarent conducting films
    Autorzy:
    G. Luka, B.S. Witkowski, L. Wachnicki, K. Goscinski, R. Jakiela, E. Guziewicz, M. Godlewski, E. Zielony, P. Bieganski, E. Placzek-Popko, W. Lisowski, J.W. Sobczak, A. Jablonski
    Czasopismo:
    Journal of Materials Science (rok: 2014, tom: 49, strony: 1512-1518), Wydawca: Springer
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1007/s10853-013-7832-5 - link do publikacji
  6. Elastic-peak electron spectroscopy (EPES) studies of ZnO single crystals
    Autorzy:
    M. Krawczyk, W. Lisowski, J.W. Sobczak, A. Kosiński, A. Jabłoński
    Czasopismo:
    Journal of Alloys and Compounds (rok: 2014, tom: 590, strony: 553-556), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.jallcom.2013.12.140 - link do publikacji
  7. Simulation of the backscattered electron intensity of multi layer structure for the explanation of secondary electron contrast
    Autorzy:
    A. Sulyok, A. L. Toth, L. Zommer, M. Menyhard, A. Jablonski
    Czasopismo:
    Ultramicroscopy (rok: 2013, tom: 124, strony: 88-95), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.ultramic.2012.08.004 - link do publikacji
  8. Studies of the Hot-pressed TiN Material by Electron Spectroscopies
    Autorzy:
    M. Krawczyk, W. Lisowski, J. W. Sobczak, A. Kosiński and A. Jablonski
    Czasopismo:
    Journal of Alloys and Compounds (rok: 2013, tom: 546, strony: 280-285), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.jallcom.2012.08.089 - link do publikacji
  9. Effective attenuation lengths for photoelectrons emitted by high-energy laboratory sources
    Autorzy:
    A. Jablonski, C. J. Powell
    Czasopismo:
    Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena , Wydawca: Elsevier
    Status:
    Przyjęta do publikacji
    Doi:
    brak - link do publikacji
  10. ALD Grown Zinc Oxide with Controllable Electrical Properties
    Autorzy:
    E. Guziewicz, M. Godlewski, L. Wachnicki, T. A. Krajewski, G. Luka,S. Gieraltowska, R. Jakiela, A. Stonert, W. Lisowski, M. Krawczyk,J. W. Sobczak and A. Jablonski
    Czasopismo:
    Semiconductor Science and Technology (rok: 2012, tom: 27, strony: 74011), Wydawca: IOP Publishing
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1088/0268-1242/27/7/074011 - link do publikacji
  11. Angular distribution of photoelectrons emitted by the laboratory soft and hard X-ray radiation sources
    Autorzy:
    A. Jabłoński
    Czasopismo:
    Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena (rok: 2013, tom: 189, strony: 81-95), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.elspec.2013.08.002 - link do publikacji
  12. Elastic Photoelectron Scattering Effects in the XPS Analysis of Stratified Samples
    Autorzy:
    A. Jablonski
    Czasopismo:
    Journal of Physics D: Applied Physics (rok: 2012, tom: 45, strony: 315302), Wydawca: IOP Publishing
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1088/0022-3727/45/31/315302 - link do publikacji
  13. Improved algorithm for calculating the Chandrasekhar function
    Autorzy:
    A. Jablonski
    Czasopismo:
    Computer Physics Communications (rok: 2013, tom: 184, strony: 440-442), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.cpc.2012.08.020 - link do publikacji
  14. Photoelectron emission from thin overlayers
    Autorzy:
    A. Jablonski
    Czasopismo:
    Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena (rok: 2012, tom: 185, strony: 498-508), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.elspec.2012.09.014 - link do publikacji
  15. Contribution of elastic photoelectron scattering to the shape of measured XPS intensity in-depth profile
    Autorzy:
    L. Zommer, W. Lisowski, A. Jablonski
    Czasopismo:
    Surface and Interface Science (rok: 2014, tom: 46, strony: 269-275), Wydawca: John Wiley
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1002/sia.5409 - link do publikacji
  16. XPS method as a useful tool for studies of quantum well epitaxial materials: Chemical composition and thermal stability of InGaN/GaN multilayers
    Autorzy:
    W. Lisowski, E. Grzanka, J. W. Sobczak, M. Krawczyk, A. Jabłoński, R. Czernecki, M. Leszczyński, T. Suski
    Czasopismo:
    Journal of Alloys and Compounds (rok: 2014, tom: 597, strony: 181-187), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.jallcom.2014.02.007 - link do publikacji
  17. Photoelectron transport in the surface region of solids: Universal analytical formalism for quantitative applications of electron spectroscopies
    Autorzy:
    A. Jablonski
    Czasopismo:
    Journal of Physics D: Applied Physics , Wydawca: IOP Publishing
    Status:
    Przyjęta do publikacji
    Doi:
    brak - link do publikacji
  1. Determination of the electron IMFP from Elastic Peak Electron Spectroscopy
    Autorzy:
    A. Jabłoński, M. Krawczyk
    Książka:
    Determination of the electron IMFP from Elastic Peak Electron Spectroscopy (rok: 2014, tom: Podręcznik, strony: 18629), Wydawca: Instytut Chemii Fizycznej PAN
    Status:
    Złożona
    Doi:
    link do publikacji
  2. Calculations of the surface composition using the XPS multiline analysis. User's guide
    Autorzy:
    A. Jabłoński, M. Krawczyk, W. Lisowski, J.W. Sobczak
    Książka:
    Calculations of the surface composition using the XPS multiline analysis. User's guide (rok: 2013, tom: Podręcznik, strony: 35796), Wydawca: Instytut Chemii Fizycznej PAN
    Status:
    Złożona
  3. Overlayer Thickness Determination from the XPS Peak Intensities
    Autorzy:
    L. Zommer, A. Jabłoński
    Książka:
    Overlayer Thickness Determination from the XPS Peak Intensities (rok: 2014, tom: Podręcznik, strony: 12420), Wydawca: Instytut Chemii Fizycznej PAN
    Status:
    Złożona

O Narodowym Centrum Nauki

Finansowanie nauki

Współpraca zagraniczna

Centrum prasowe

Deklaracja dostępności
Przetwarzanie danych osobowych
Polityka cookies

Partnerzy