Projekty finansowane przez NCN


Dane kierownika projektu i jednostki realizującej

Szczegółowe informacje o projekcie i konkursie

Słowa kluczowe

Aparatura

Wyczyść formularz

Wpływ warunków wzrostu, domieszkowania i obróbki termicznej na strukturę defektową cienkich warstw tlenku cynku otrzymanych metodami epitaksjalnymi

2013/09/D/ST5/03879

Słowa kluczowe:

tlenek cynku cienkie warstwy struktura defektowa

Deskryptory:

  • ST5_1: Właściwości strukturalne materiałów
  • ST5_4: Cienkie warstwy
  • ST5_8: Nowe materiały: tlenki, stopy, kompozyty, hybrydy organiczno-nieorganiczne, nadprzewodniki

Panel:

ST5 - Synteza i materiały: otrzymywanie materiałów, związki struktury z właściwościami, nowoczesne materiały o założonych właściwościach, architektura (makro)molekularna, chemia organiczna, chemia nieorganiczna, m.in.:

Jednostka realizująca:

Instytut Fizyki PAN

woj. mazowieckie

Inne projekty tej jednostki 

Kierownik projektu (z jednostki realizującej):

dr Tomasz Krajewski 

Liczba wykonawców projektu: 5

Konkurs: SONATA 5 - ogłoszony 2013-03-15

Przyznana kwota: 470 500 PLN

Rozpoczęcie projektu: 2014-02-18

Czas trwania projektu: 36 miesięcy

Status projektu: Projekt rozliczony

Zakupiona aparatura

  1. Opcja "MI–IA" pozwalająca zwiększyć dokładność pomiaru bezwzględnej wartości impedancji w lock-inie firmy Zurich Instruments. Za kwotę 3 595 PLN
  2. Opcja rozszerzająca zakres częstotliwości pomiarowych lock-ina firmy Zurich Instruments. Za kwotę 11 405 PLN
  3. Uniwersalny miernik impedancji (LCR). Za kwotę 100 000 PLN

Dane z raportu końcowego

  • Publikacje w czasopismach (6)
  1. "Improved efficiency of n-ZnO/p-Si based photovoltaic cells by band offset engineering" IF: 4,784
    Autorzy:
    R. Pietruszka, R. Schifano, T.A. Krajewski, B. S. Witkowski, K. Kopalko, Ł. Wachnicki, E. Zielony, K. Gwóźdź, P. Biegański, E. Płaczek-Popko, M. Godlewski
    Czasopismo:
    Solar Energy Materials and Solar Cells (rok: 2016, tom: 147, strony: 164 - 170), Wydawca: ELSEVIER SCIENCE BV (Holandia)
    Status:
    Opublikowane
    Doi:
    10.1016/j.solmat.2015.12.018 - link do publikacji
  2. "Analysis of scattering mechanisms in zinc oxide films grown by the atomic layer deposition technique" IF: 2,101
    Autorzy:
    T. A. Krajewski, K. Dybko, G. Łuka, Ł. Wachnicki, K. Kopalko, W. Paszkowicz, M. Godlewski, E. Guziewicz
    Czasopismo:
    Journal of Applied Physics (rok: 2015, tom: 118, strony: 035706), Wydawca: AMER. INST. PHYSICS/AIP PUBLISHING (USA)
    Status:
    Opublikowane
    Doi:
    10.1063/1.4927294 - link do publikacji
  3. "Diversity of contributions leading to the nominally n-type behavior of ZnO films obtained by low temperature Atomic Layer Deposition" IF: 3,779
    Autorzy:
    T.A. Krajewski, P. Terziyska, G. Łuka, E. Łusakowska, R. Jakieła, E.S. Vlakhov, E. Guziewicz
    Czasopismo:
    Journal of Alloys and Compounds (rok: 2017, tom: 727, strony: 902 - 911), Wydawca: ELSEVIER SCIENCE SA (Szwajcaria)
    Status:
    Opublikowane
    Doi:
    10.1016/j.jallcom.2017.08.206 - link do publikacji
  4. "N and al co-doping as a way to p-type ZnO without post-growth annealing" IF: 1,068
    Autorzy:
    D. Snigurenko, E. Guziewicz, T.A. Krajewski, R. Jakieła, Y. Syryanyy, K. Kopalko, W. Paszkowicz
    Czasopismo:
    Materials Research Express (rok: 2016, tom: 3, strony: 125907), Wydawca: IOP PUBLISHING LTD (Wlk. Brytania - Anglia)
    Status:
    Opublikowane
    Doi:
    10.1088/2053-1591/3/12/125907 - link do publikacji
  5. "Role of the hafnium dioxide spacer in the ZnO-based planar Schottky diodes obtained by the low-temperature Atomic Layer Deposition method: Investigations of current-voltage characteristics" IF: 2,207
    Autorzy:
    A.J. Zakrzewski, T.A. Krajewski, G. Łuka, K. Gościński, E. Guziewicz, M. Godlewski
    Czasopismo:
    IEEE Transactions on Electron Devices (rok: 2015, tom: 62, strony: 630-633), Wydawca: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC (USA)
    Status:
    Opublikowane
    Doi:
    10.1109/TED.2014.2376979 - link do publikacji
  6. "Tuning the properties of ALD-ZnO-based rectifying structures by thin dielectric film insertion - Modeling and experimental studies" IF: 3,779
    Autorzy:
    T.A. Krajewski, P.S. Smertenko, G. Łuka, D. Snigurenko, K. Kopalko, E. Łusakowska, R. Jakieła, E. Guziewicz
    Czasopismo:
    Journal of Alloys and Compounds (rok: 2017, tom: 693, strony: 1164-1173), Wydawca: ELSEVIER SCIENCE SA (Szwajcaria)
    Status:
    Opublikowane
    Doi: