Projekty finansowane przez NCN

Dane kierownika projektu i jednostki realizującej

Szczegółowe informacje o projekcie i konkursie

Słowa kluczowe

Aparatura

Wyczyść formularz

Nanometrologia efektu Nottingham prowadzona operacyjnymi układami mikro-elekromechanicznymi

2020/37/B/ST7/03792

Słowa kluczowe:

Nanometrologia nanoelektronika układy mikro i nanoelektromechaniczne

Deskryptory:

  • ST7_4: Inżynieria mikro- i nanosystemów

Panel:

ST7 - Inżynieria systemów i komunikacji: elektronika, komunikacja, optoelektronika

Jednostka realizująca:

Politechnika Wrocławska

woj.

Inne projekty tej jednostki 

Kierownik projektu (z jednostki realizującej):

prof. Teodor Paweł Gotszalk 

Liczba wykonawców projektu: 7

Konkurs: OPUS 19 - ogłoszony 2020-03-16

Przyznana kwota: 1 523 640 PLN

Rozpoczęcie projektu: 2021-01-01

Zakończenie projektu: 2024-05-18

Planowany czas trwania projektu: 40 miesięcy (z wniosku)

Status projektu: Projekt rozliczony

Opis Projektu

Pobierz opis projektu w formacie .pdf

Uwaga - opisy projektów zostały sporządzone przez samych autorów wniosków i w niezmienionej formie umieszczone w systemie.

Dane z raportu końcowego/rocznego

  • Publikacje w czasopismach (20)
  1. Electrical, thermal and noise properties of platinum-carbon free-standing nanowires designed as nanoscale resistive thermal devices
    Autorzy:
    Tomasz Piasecki , Krzysztof Kwoka , Ewelina Gacka , Piotr Kunicki, Teodor Gotszalk
    Czasopismo:
    Nanotechnology (rok: 2023, tom: 35, strony: 115502), Wydawca: IOP
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1088/1361-6528/ad13c0 - link do publikacji
  2. Corrigendum to Focused ion beam-based microfabrication of boron-doped diamond single-crystal tip cantilevers for electrical and mechanical scanning probe microscopy".
    Autorzy:
    Ewelina Gacka, Piotr Kunicki, Andrzej Sikora, Robert Bogdanowicz, Mateusz Ficek, Teodor Gotszalk, Ivo W. Rangelow c, Krzysztof Kwoka a
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2022, tom: 191, strony: 110828), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2022.110828 - link do publikacji
  3. Ion microsource integrated with scanning electron microscope for sample preparation
    Autorzy:
    Witold Slówko, Teodor Gotszalk
    Czasopismo:
    Micron (rok: 2023, tom: 167, strony: 103419), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.micron.2023.103419 - link do publikacji
  4. Integration of Fluorescent, NV-Rich Nanodiamond Particles with AFM Cantilevers by Focused Ion Beam for Hybrid Optical and Micromechanical Devices
    Autorzy:
    Mateusz Ficek, Maciej J. Głowacki, Krzysztof Gajewski, Piotr Kunicki, Ewelina Gacka, Krystian Sycz, Mariusz Mrózek, Adam M. Wojciechowski, Teodor P. Gotszalk, Wojciech Gawlik, Robert Bogdanowicz
    Czasopismo:
    Coatings (rok: 2021, tom: 11, strony: 1332), Wydawca: MDPI
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.3390/coatings11111332 - link do publikacji
  5. Metrology and control of electromagnetically actuated cantilevers using optical beam deflection method
    Autorzy:
    Daniel Kopiec, Wojciech Majstrzyk, Bartosz Pruchnik, Ewelina Gacka, Dominik Badura, Andrzej Sierakowski, Paweł Janus, TeodorGotszalk
    Czasopismo:
    METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS (rok: 2021, tom: 28, strony: 627-642), Wydawca: Polish Academy of Sciences
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.24425/mms.2021.137698 - link do publikacji
  6. Study of the Efficiency of Microcantilevers: Cases of Electrothermal and Electromagnetic Actuation
    Autorzy:
    Bartosz Pruchnik, Tomasz Piasecki, Karolina Orlowska, Wojciech Majstrzyk, Andrzej Sierakowski, Teodor Gotszalk, Ivo Rangelow
    Czasopismo:
    Journal of Microelectromechanical Systems (rok: 2022, tom: 31, strony: 784 - 790), Wydawca: IEEE
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1109/JMEMS.2022.3187793 - link do publikacji
  7. Wavelet-Based Information Theory in Quantitative Assessment of AFM Images' Quality
    Autorzy:
    Bartosz Pruchnik, Piotr Putek, Teodor Gotszalk
    Czasopismo:
    Scientific Reports (rok: 2024, tom: 14, strony: 3996), Wydawca: Springer
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1038/s41598-024-53846-y - link do publikacji
  8. Focused ion beam-based microfabrication of boron-doped diamond single-crystal tip cantilevers for electrical and mechanical scanning probe microscopy
    Autorzy:
    Ewelina Gacka, Piotr Kunicki, Andrzej Sikora, Robert Bogdanowicz, Mateusz Ficek, Teodor Gotszalk, Ivo W. Rangelow, Krzysztof Kwoka
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2022, tom: 188, strony: 110373), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2021.110373 - link do publikacji
  9. Ion microsource integrated with scanning electron microscope for sample preparation
    Autorzy:
    Witold Slówko, Teodor Gotszalk
    Czasopismo:
    Micron (rok: 2023, tom: 167, strony: 103419), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.micron.2023.103419 - link do publikacji
  10. Corrigendum to Focused ion beam-based microfabrication of boron-doped diamond single-crystal tip cantilevers for electrical and mechanical scanning probe microscopy".
    Autorzy:
    Ewelina Gacka, Piotr Kunicki, Andrzej Sikora, Robert Bogdanowicz, Mateusz Ficek, Teodor Gotszalk, Ivo W. Rangelow c, Krzysztof Kwoka a
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2022, tom: 191, strony: 110828), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2022.110828 - link do publikacji
  11. Focused ion beam-based microfabrication of boron-doped diamond single-crystal tip cantilevers for electrical and mechanical scanning probe microscopy
    Autorzy:
    Ewelina Gacka, Piotr Kunicki, Andrzej Sikora, Robert Bogdanowicz, Mateusz Ficek, Teodor Gotszalk, Ivo W. Rangelow, Krzysztof Kwoka
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2022, tom: 188, strony: 110373), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2021.110373 - link do publikacji
  12. Measurement 188 (2022) 110373 Available online 1 November 2021 0263-2241/© 2021 The Authors. Published by Elsevier Ltd. This is an open access article under the CC BY license (http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/).Focused ion beam-based microfabrication of boron-doped diamond single-crystal tip cantilevers for electrical and mechanical scanning probe microscopy
    Autorzy:
    Ewelina Gacka, Piotr Kunicki, Andrzej Sikora, Robert Bogdanowicz, Mateusz Ficek, Teodor Gotszalk, Ivo W. Rangelow, Krzysztof Kwoka
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2022, tom: 188, strony: 110373), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2021.11037 - link do publikacji
  13. Electrical, thermal and noise properties of platinum-carbon free-standing nanowires designed as nanoscale resistive thermal devices
    Autorzy:
    Tomasz Piasecki , Krzysztof Kwoka , Ewelina Gacka , Piotr Kunicki, Teodor Gotszalk
    Czasopismo:
    Nanotechnology (rok: 2023, tom: 35, strony: 115502), Wydawca: IOP
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1088/1361-6528/ad13c0 - link do publikacji
  14. Fabrication of Focused Ion Beam-Deposited Nanowire Probes for Conductive Atomic Force Microscopy
    Autorzy:
    Ewelina Gacka, Bartosz Pruchnik, Magdalena Tamulewicz-Szwajkowska, Dominik Badura, Ivo W. Rangelow, Teodor Gotszalk
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2024, tom: 234, strony: 114815), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2024.114815 - link do publikacji
  15. Novel type of whisker-tip cantilever based on GaN microrods for atomic force microscopy
    Autorzy:
    Ewelina Gacka, Piotr Kunicki, Paulina Łysik, Krzysztof Gajewski, Paulina Ciechanowicz, Damian Pucicki , Dominika Majchrzak, Teodor Gotszalk , Tomasz Piasecki, Tito Busani, Ivo W. Rangelow, Detlef Hommel
    Czasopismo:
    Ultramicroscopy (rok: 2023, tom: 248, strony: 113713), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.ultramic.2023.113713 - link do publikacji
  16. Focused ion beam-based microfabrication of boron-doped diamond single-crystal tip cantilevers for electrical and mechanical scanning probe microscopy
    Autorzy:
    Ewelina Gacka, Piotr Kunicki, Andrzej Sikora, Robert Bogdanowicz, Mateusz Ficek, Teodor Gotszalk, Ivo W. Rangelow, Krzysztof Kwoka
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2022, tom: 188, strony: 110373), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2021.110373 - link do publikacji
  17. Impedance spectroscopy of electrostatically driven MEMS resonators
    Autorzy:
    Krzysztof Kwoka, Tomasz Piasecki, Karolina Orłowska, Paulina Grabarczyk, Andrzej Sierakowski, Teodor Gotszalk, Ewelina Gacka, Adrianna Piejko, Krzysztof Gajewski
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2023, tom: 215, strony: 112845), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2023.112845 - link do publikacji
  18. Improvement of MEMS Thermomechanical Actuation Efficiency by Focused Ion Beam-Induced Deposition
    Autorzy:
    Bartosz Pruchnik, Tomasz Piasecki, Ewelina Gacka, Mateus G. Masteghin, David C. Cox, Teodor Gotszalk
    Czasopismo:
    Journal of Microelectromechanical Systems (rok: 2024, tom: 33, strony: 362 - 368), Wydawca: IEEE
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1109/JMEMS.2024.3377595 - link do publikacji
  19. Corrigendum to Focused ion beam-based microfabrication of boron-doped diamond single-crystal tip cantilevers for electrical and mechanical scanning probe microscopy".
    Autorzy:
    Ewelina Gacka, Piotr Kunicki, Andrzej Sikora, Robert Bogdanowicz, Mateusz Ficek, Teodor Gotszalk, Ivo W. Rangelow c, Krzysztof Kwoka a
    Czasopismo:
    Measurement (rok: 2022, tom: 191, strony: 110828), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.measurement.2022.110828 - link do publikacji
  20. Novel type of whisker-tip cantilever based on GaN microrods for atomic force microscopy
    Autorzy:
    Ewelina Gacka, Piotr Kunicki, Paulina Łysik, Krzysztof Gajewski, Paulina Ciechanowicz, Damian Pucicki , Dominika Majchrzak, Teodor Gotszalk , Tomasz Piasecki, Tito Busani, Ivo W. Rangelow, Detlef Hommel
    Czasopismo:
    Ultramicroscopy (rok: 2023, tom: 248, strony: 113713), Wydawca: Elsevier
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.ultramic.2023.113713 - link do publikacji

O Narodowym Centrum Nauki

Finansowanie nauki

Współpraca zagraniczna

Centrum prasowe

Deklaracja dostępności
Przetwarzanie danych osobowych
Polityka cookies

Partnerzy