Badania zniszczeń radiacyjnych w strukturach półprzewodnikowych przy zastosowaniu wiązki elektronów o ultra-niskiej energii
2017/27/B/ST8/01158
Słowa kluczowe
Deskryptory
- ST8_8: Inżynieria materiałowa (biomateriały, metale, ceramika, polimery, kompozyty)
- ST8_14: Inne zagadnienia pokrewne
Panel
ST8 – Inżynieria procesów i produkcji: projektowanie wyrobów, projektowanie i sterowanie procesami produkcji, konstrukcje i procesy budowlane, inżynieria materiałowa, systemy energetyczne
Jednostka realizująca
Sieć Badawcza ŁUKASIEWICZ - Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki
woj. mazowieckie
Kierownik projektu (z jednostki realizującej)
Liczba wykonawców projektu: 5
Konkurs
OPUS 14 – ogłoszony 2017-09-15
- Przyznana kwota
- 507 200 PLN
- Rozpoczęcie projektu
- 2018-07-19
- Zakończenie projektu
- 2022-07-18
- Planowany czas trwania projektu
- 48 miesięcy (z wniosku)
- Status projektu
- Projekt rozliczony
Opis projektu
Pobierz opis projektu w formacie .pdf
Uwaga — opisy projektów zostały sporządzone przez samych autorów wniosków i w niezmienionej formie umieszczone w systemie.
Zakupiona aparatura
- Komputer (laptop) i monitor komputerowy wraz z oprogramowaniem Windows i MS Office. Za kwotę 6 000 PLN
Dane z raportu końcowego/rocznego
Publikacje w czasopismach (4)
-
Direct visualization of highly resistive areas in GaN by means of low-voltage scanning electron microscopy
- Autorzy:
- Iwona Jóźwik, Jacek Jagielski, Piotr Caban, Maciej Kamiński, Ulrich Kentsch
- Czasopismo:
- Materials Science in Semiconductor Processing (rok: 2022, tom: 138, strony: 106293 (1-4)), Wydawca: Elsevier
- Status:
- Opublikowana
- DOI:
- 10.1016/j.mssp.2021.106293 – link do publikacji
-
Resistivity contrast imaging in semiconductor structures using ultra-low energy scanning electron microscopy
- Autorzy:
- I. Jóźwik, J. Jagielski, E. Dumiszewska, M. Kamiński, U. Kentsch
- Czasopismo:
- Ultramicroscopy (rok: 2021, tom: 228, strony: 113333 (1-6)), Wydawca: Elsevier
- Status:
- Opublikowana
- DOI:
- 10.1016/j.ultramic.2021.113333 – link do publikacji
-
Ion-Irradiated Damage in Semiconductors Visualized by Means of Low-kV Scanning Electron Microscopy
- Autorzy:
- Iwona Jozwik, Adam Barcz, Ewa Dumiszewska, Elzbieta Dabrowska
- Czasopismo:
- Microscopy and Microanalysis (rok: 2019, tom: 25 (suppl 2), strony: 486-487), Wydawca: Cambridge University Press
- Status:
- Opublikowana
- DOI:
- 10.1017/S1431927619003167 – link do publikacji
-
Damage-induced voltage alteration (DIVA) contrast in SEM images of ionirradiated semiconductors
- Autorzy:
- Iwona Jóźwik, Adam Barcz, Elżbieta Dąbrowska, Ewa Dumiszewska, Paweł Piotr Michałowski
- Czasopismo:
- Ultramicroscopy (rok: 2019, tom: 204, strony: 46182), Wydawca: Elsevier
- Status:
- Opublikowana
- DOI:
- 10.1016/j.ultramic.2019.04.013 – link do publikacji