Projekty finansowane przez NCN


Dane kierownika projektu i jednostki realizującej

Szczegółowe informacje o projekcie i konkursie

Słowa kluczowe

Aparatura

Wyczyść formularz

Badanie struktury elektronowej, gęstości stanów i morfologii powierzchni półprzewodników złożonych AIIIBV-N z zastosowaniem nowatorskiego spektromikroskopu DEEM. Opracowanie nowej metodologii charakteryzacji.

2015/17/B/ST7/03815

Słowa kluczowe:

epitaksja związki AIIIBV-N stany powierzchniowe morfologia struktura elektronowa mikroskop spektralny

Deskryptory:

  • ST7_5: Mikro- i nanoelektronika, optoelektronika
  • ST7_2: Elektrotechnika, elektronika: półprzewodniki, elementy i układy, systemy

Panel:

ST7 - Inżynieria systemów i komunikacji: elektronika, komunikacja, optoelektronika

Jednostka realizująca:

Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

woj. dolnośląskie

Inne projekty tej jednostki 

Kierownik projektu (z jednostki realizującej):

dr hab. Krzysztof Grzelakowski 

Liczba wykonawców projektu: 6

Konkurs: OPUS 9 - ogłoszony 2015-03-16

Przyznana kwota: 1 342 200 PLN

Rozpoczęcie projektu: 2016-03-18

Zakończenie projektu: 2019-09-17

Planowany czas trwania projektu: 36 miesięcy (z wniosku)

Status projektu: Projekt rozliczony

Opis Projektu

Pobierz opis projektu w formacie .pdf

Uwaga - opisy projektów zostały sporządzone przez samych autorów wniosków i w niezmienionej formie umieszczone w systemie.

Zakupiona aparatura

  1. Turbomolekularny wysokopróżniowy układ pompujący.
  2. wyładowawcze źródło promieniowania w głębokim ultrafiolecie o dużej gęstości fotonowej z plazmy gazów szlachetnych wraz z monochromatorem. Za kwotę 475 000 PLN
  3. komputerowa stacja robocza do obsługi systemu pomiarowego z dwoma monitorami. Za kwotę 10 000 PLN
  4. oprogramowanie systemu (na bazie LabView). Za kwotę 10 000 PLN

Dane z raportu końcowego

  • Publikacje w czasopismach (4)
  1. The New Methodology and Chemical Contrast Observation by Use of the Energy-Selective Back-Scattered Electron Detector IF: 1,877
    Autorzy:
    Marek Drab, Janusz Krajniak and Krzysztof P. Grzelakowski (corresponding author)
    Czasopismo:
    Microscopy and Microanalysis (rok: 2016, tom: 22, strony: 1369–1373), Wydawca: CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1017/S1431927616012514 - link do publikacji
  2. Space charge effects and aberrations on electron pulse compression in a spherical electrostatic capacitor IF: 2,843
    Autorzy:
    Yu Lei, Li Haibo, Wan Weishi, Wei Zheng, Krzysztof P.Grzelakowski, Rudolf M. Tromp, Tang Wen-Xin
    Czasopismo:
    Ultramicroscopy (rok: 2017, tom: Volume 183, strony: Pages 30-37), Wydawca: ELSEVIER
    Status:
    Opublikowana
    Doi:
    10.1016/j.ultramic.2017.07.003 - link do publikacji
  3. Electron optical optimisation of an imaging energy analyser: real model field and trajectorysimulations applied to k-space visualisation of electronic states IF: 0,94
    Autorzy:
    Gabriel A. CEBALLOS, Krzysztof P. GRZELAKOWSKI
    Czasopismo:
    Advances in Electrical and Electronic Engineering (rok: 2021, ), Wydawca: VSB-Technical University
    Status:
    Przyjęta do publikacji
  4. A new methodology for energy selective electron analysis and imaging: LEED, LEEM, PEEM, AES and UPS in Dual Emission Electron spectroMicroscope for topographic-, atomic-, chemical- and band structure determination IF: 1,604
    Autorzy:
    Krzysztof Piotr Grzelakowski, Gabriel Armando Ceballos, Marek Jerzy Tlaczala
    Czasopismo:
    Review of Scientific Instruments , Wydawca: American Institute of Physics
    Status:
    Złożona
    Doi:
    RSI21-AR-02507 - link do publikacji