Badanie struktury elektronowej, gęstości stanów i morfologii powierzchni półprzewodników złożonych AIIIBV-N z zastosowaniem nowatorskiego spektromikroskopu DEEM. Opracowanie nowej metodologii charakteryzacji.

2015/17/B/ST7/03815

Słowa kluczowe

Deskryptory

  • ST7_5: Mikro- i nanoelektronika, optoelektronika
  • ST7_2: Elektrotechnika, elektronika: półprzewodniki, elementy i układy, systemy

Panel

ST7 – Inżynieria systemów i komunikacji: elektronika, komunikacja, optoelektronika

Jednostka realizująca

Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

woj. dolnośląskie

Inne projekty tej jednostki »

Kierownik projektu (z jednostki realizującej)

dr hab. Krzysztof Piotr Grzelakowski

Liczba wykonawców projektu: 6

Konkurs

OPUS 9 – ogłoszony 2015-03-16

Przyznana kwota
1 342 200 PLN
Rozpoczęcie projektu
2016-03-18
Zakończenie projektu
2019-09-17
Planowany czas trwania projektu
42 miesiące (z wniosku)
Status projektu
Projekt rozliczony

Opis projektu

Pobierz opis projektu w formacie .pdf

Uwaga — opisy projektów zostały sporządzone przez samych autorów wniosków i w niezmienionej formie umieszczone w systemie.

Zakupiona aparatura

  1. Turbomolekularny wysokopróżniowy układ pompujący.
  2. komputerowa stacja robocza do obsługi systemu pomiarowego z dwoma monitorami. Za kwotę 10 000 PLN
  3. oprogramowanie systemu (na bazie LabView). Za kwotę 10 000 PLN
  4. wyładowawcze źródło promieniowania w głębokim ultrafiolecie o dużej gęstości fotonowej z plazmy gazów szlachetnych wraz z monochromatorem. Za kwotę 475 000 PLN

Dane z raportu końcowego/rocznego

Publikacje w czasopismach (3)

  1. Space charge effects and aberrations on electron pulse compression in a spherical electrostatic capacitor

    Autorzy:
    Yu Lei, Li Haibo, Wan Weishi, Wei Zheng, Krzysztof P.Grzelakowski, Rudolf M. Tromp, Tang Wen-Xin
    Czasopismo:
    Ultramicroscopy (rok: 2017, tom: Volume 183, strony: Pages 30-37), Wydawca: ELSEVIER
    Status:
    Opublikowana
    DOI:
    10.1016/j.ultramic.2017.07.003 – link do publikacji
  2. The New Methodology and Chemical Contrast Observation by Use of the Energy-Selective Back-Scattered Electron Detector

    Autorzy:
    Marek Drab, Janusz Krajniak and Krzysztof P. Grzelakowski (corresponding author)
    Czasopismo:
    Microscopy and Microanalysis (rok: 2016, tom: 22, strony: 1369–1373), Wydawca: CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS
    Status:
    Opublikowana
    DOI:
    10.1017/S1431927616012514 – link do publikacji
  3. Electron optical optimisation of an imaging energy analyser: real model field and trajectorysimulations applied to k-space visualisation of electronic states

    Autorzy:
    Gabriel A. CEBALLOS, Krzysztof P. GRZELAKOWSKI
    Status:
    Przyjęta do publikacji

« Nowe wyszukiwanie

Projekt graficzny i wykonanie: Jakub Piotrowski