Projekty finansowane przez NCN
Modyfikacja poziomów energetycznych złącz polimer/metal
2013/09/N/ST5/00874
Słowa kluczowe:
KPFM SIMS UPS kelwinowska mikroskopia sił warstwy samoorganizujące cienkie warstwy polimerowe złącze polimer/metal praca wyjścia moment dipolowy kontaktowa różnica potencjałów
Deskryptory:
- ST5_4: Cienkie warstwy
- ST5_12: Materiały "inteligentne" – materiały samoorganizujące się, materiały reagujące na bodźce zewnętrzne
- ST5_3: Modyfikacja powierzchni materiałów
Panel:
ST5 - Synteza i materiały: otrzymywanie materiałów, związki struktury z właściwościami, nowoczesne materiały o założonych właściwościach, architektura (makro)molekularna, chemia organiczna, chemia nieorganiczna
Jednostka realizująca:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
woj. małopolskie
Konkurs: PRELUDIUM 5 - ogłoszony 2013-03-15
Przyznana kwota: 145 477 PLN
Rozpoczęcie projektu: 2014-03-18
Zakończenie projektu: 2017-03-17
Planowany czas trwania projektu: 36 miesięcy (z wniosku)
Status projektu: Projekt rozliczony
Zakupiona aparatura
- Reduktor butlowy do gazów laboratoryjnych. Za kwotę 1 150 PLN
- Mieszadło magnetyczne z grzaniem. Za kwotę 800 PLN
Dane z raportu końcowego/rocznego
- Publikacje w czasopismach (1)
- Teksty w publikacjach pokonferencyjnych (2)
- Influence of Acrylic Polymers Stereoregularity on Interface Interactions in Model Thin Film SystemsAutorzy:Mateusz M. Marzec, Kamil Awsiuk, Paweł Dąbczyński, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski, Andrzej BernasikCzasopismo:Macromolecular Chemistry and Physics (rok: 2018, tom: bd, strony: bd), Wydawca: WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, WeinheimStatus:Przyjęta do publikacjiDoi:10.1002/macp.201800097 - link do publikacji
- Sputter depth profiling with large Arn+ cluster ion beam for characterization of interfaces in multilayer organic structuresAutorzy:Mateusz M. Marzec, Jakub Rysz, Andrzej Bernasik, Wojciech Łużny, Andrzej BudkowskiKonferencja:SIMS Europe 2014 (rok: 2014, ), Wydawca: brak danychData:konferencja 7 - 9 wrzesień 2014Status:Opublikowana
- XPS/UPS depth profiling with Gas Cluster Ion Beam for characterization of interfaces in thin multilayer organic structuresAutorzy:Mateusz M. Marzec, Jakub Rysz, Jakub Haberko, Andrzej Bernasik, Andrzej BudkowskiKonferencja:20th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS XX (rok: 2015, ), Wydawca: brak danychData:konferencja 13-18 wrzesieńStatus:Opublikowana