Investigation of structural, optical and electrical properties of (Ti,Nb)Ox thin films deposited by high energy reactive magnetron sputtering IF: 0,327
Autorzy:
Mazur Michał, Kaczmarek Danuta, Prociów Eugeniusz, Domaradzki Jarosław, Wojcieszak Damian, Bocheński Jakub
Czasopismo:
Materials Science-Poland (rok: 2014, tom: 32, nr 3, strony: 457-464), Wydawca: De Gruyter
Optical and electrical properties of (Ti-V)Ox thin film as n-type Transparent Oxide Semiconductor IF: 1
Autorzy:
Mazur Michał, Domaradzki Jarosław, Wojcieszak Damian
Czasopismo:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences (rok: 2014, tom: 62, nr 3, strony: 583-588), Wydawca: De Gruyter
Analiza właściwości wybranych warstw typu TCO jako optycznych luster podczerwieni
Autorzy:
Domaradzki Jarosław, Kaczmarek Danuta, Wojcieszak Damian, Mazur Michał, Poniedziałek Agata, Głodek Sławomir
Czasopismo:
Przegląd Elektrotechniczny (rok: 2015, tom: R.91, nr 9, strony: 20-23), Wydawca: SigmaNOT
Investigations of electrical and optical properties of functional TCO thin films IF: 0,507
Autorzy:
Domaradzki Jarosław, Kaczmarek Danuta, Drabczyk Kazimierz, Panek Piotr
Czasopismo:
Materials Science-Poland (rok: 2015, tom: 33(2), strony: 363-368), Wydawca: De Gruyter
Memristive properties of transparent oxide semiconducting (Ti,Cu)Ox-gradient thin film IF: 2,305
Autorzy:
Jarosław Domaradzki, Tomasz Kotwica, Michał Mazur, Danuta Kaczmarek, Damian Wojcieszak
Czasopismo:
Semiconductor Science and Technology (rok: 2018, tom: 33, strony: 15002), Wydawca: IOP Publishing
Surface and mechanical characterization of ITO coatings prepared by microwave-assisted magnetron sputtering process IF: 1,393
Autorzy:
Mazur Michał, Szymańska Magdalena, Kalisz Małgorzata, Kaczmarek Danuta, Domaradzki Jarosław
Czasopismo:
Surface and Interface Analysis (rok: 2014, tom: 46, nr 10/11, strony: 827-831), Wydawca: Wiley
Analysis of surface properties of semiconducting (Ti,Pd,Eu)Ox thin films IF: 1,287
Autorzy:
Damian Wojcieszak, Danuta Kaczmarek, Jarosław Domaradzki
Czasopismo:
Opto-Electronics Review (rok: 2016, tom: 24(1), strony: 15-19), Wydawca: De-Gruyter (od 2017 roku Elsevier)
Investigation of physicochemical properties of (Ti-V)Ox (4.3 at.% of V) functional thin films and their possible application in the field oftransparent electronics IF: 2,469
Autorzy:
Mazur Michał, Domaradzki Jarosław, Wojcieszak Damian, Danuta Kaczmarek, Mazur Piotr
Czasopismo:
Applied Surface Science (rok: 2014, tom: 304, strony: 73-80), Wydawca: Elsevier
Investigations of elemental composition and structure evolution in (Ti,Cu)- oxide gradient thin films prepared using (multi)magnetron co-sputtering IF: 2,589
Autorzy:
Michal Mazur, Jaroslaw Domaradzki, Damian Wojcieszak, Danuta Kaczmarek
Czasopismo:
Surface & Coatings Technology (rok: 2018, tom: 334, strony: 150-157), Wydawca: Elsevier
Memrystor - brakujący element elektroniczny
Autorzy:
Jarosław Domaradzki, Danuta Kaczmarek, Damian Wojcieszak, Michał Mazur, Agata Poniedziałek, Tomasz Kotwica
Czasopismo:
Elektronika - konstrukcje, technologie, zastosowania (rok: 2016, tom: 7, strony: 45180), Wydawca: SIGMA_NOT
Perspectives of development of TCO and TOS thin films based on (Ti-Cu)oxide composites IF: 2,417
Autorzy:
Jarosław Domaradzki
Czasopismo:
Surface & Coatings Technology (rok: 2016, tom: 290, strony: 28-33), Wydawca: Elsevier
Transparent electronics based on TiO2 - perspectives of development
Autorzy:
Domaradzki Jarosław, Kaczmarek Danuta
Czasopismo:
Elektronika - konstrukcje, technologie, zastosowania (rok: 2014, tom: R.55, nr 9, strony: 33-35), Wydawca: SIGMA-NOT