Projekty finansowane przez NCN


Dane kierownika projektu i jednostki realizującej

Szczegółowe informacje o projekcie i konkursie

Słowa kluczowe

Aparatura

Wyczyść formularz

Wysokorozdzielcze badania właściwości cieplnych nanostruktur metodami skaningowej mikroskopii termicznej bliskiego pola z oporowymi nanoczujnikami temperatury

2011/03/N/ST7/02607

Słowa kluczowe:

nanometrologia nanotechnologia mikroskopia bliskich oddziaływań

Deskryptory:

  • ST7_5: Mikro- i nanoelektronika, optoelektronika
  • ST7_2: Elektrotechnika, elektronika: półprzewodniki, elementy i układy, systemy

Panel:

ST7 - Inżynieria systemów i komunikacji: elektronika, komunikacja, optoelektronika, m.in.:

Jednostka realizująca:

Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki

woj. dolnośląskie

Inne projekty tej jednostki 

Kierownik projektu (z jednostki realizującej):

Grzegorz Wielgoszewski 

Liczba wykonawców projektu: 2

Konkurs: PRELUDIUM 2 - ogłoszony 2011-09-15

Przyznana kwota: 93 900 PLN

Rozpoczęcie projektu: 2012-09-14

Zakończenie projektu: 2013-09-13

Planowany czas trwania projektu: 12 miesięcy (z wniosku)

Status projektu: Projekt rozliczony

Zakupiona aparatura

  1. Wzmacniacz fazoczuły (typu lock-in) - Stanford Research Systems SR830. Za kwotę 24 969 PLN

Dane z raportu końcowego

  • Publikacje w czasopismach (1)
  • Teksty w publikacjach pokonferencyjnych (1)
  1. Standard-based direct calibration method for scanning thermal microscopy nanoprobes IF: 1,903
    Autorzy:
    Grzegorz Wielgoszewski, Michał Babij, Roman F. Szeloch, Teodor Gotszalk
    Czasopismo:
    Sensors and Actuators A. Physical (rok: 2014, tom: 214, strony: 1–6), Wydawca: Elsevier Science SA
    Status:
    Opublikowane
    Doi:
    10.1016/j.sna.2014.03.035 - link do publikacji
  1. Calibration issues in scanning thermal microscopy investigations of thermal properties of micro- and nanostructures
    Autorzy:
    Grzegorz Wielgoszewski, Grzegorz Jóźwiak, Michał Babij, Teodor Gotszalk, Paweł Janus, Piotr Grabiec, Robert Geer
    Konferencja:
    Microtherm 2013: Microtechnology and Thermal Problems in Electronics (rok: 2013, ), Wydawca: Politechnika Łódzka
    Data:
    konferencja 25-28 czerwca 2013
    Status:
    Opublikowane